ارتقای میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)

بدین وسیله به استحضار می رساند به منظور بهبود قابلیت های دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) نظیر افزایش کیفیت تصاویر و کاهش محدودیت های ابعادی و … و با عنایت مسئولین محترم دانشگاه، AFM مدل Full plus 2015 با دستگاه مدل BRISK 2019 جایگزین شد.

از این میکروسکوپ برای مطالعه مورفولوژی سطح، تصویربرداری از سطح (2D و 3D)، تصویر برداری از نانو ذرات و یا مواد 2D، تعیین زبری سطح، محاسبه نیروی چسبندگی سطح، تصویر برداری از دامنه های مغناطیسی و سایر اطلاعات نمونه استفاده می شود.

این دستگاه در مدهای تماسی، غیر تماسی، ضربه ای، مغناطیسی و الکتریکی قادر به ارائه خدمات است. متقاضیان میتوانند از ابتدای مرداد 98 از خدمات این دستگاه استفاده نمایند.

کامنت‌ها بسته شده‌اند.