AFM

AFM

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)

توانایی­‌ها

مطالعه مورفولوژی سطح، تصویربرداری از سطح (2D & 3D)، تصویربرداری از نانو ذرات و یا مواد 2D، تعیین زبری سطح، محاسبه نیروی چسبندگی سطح، تصویربرداری از دامنه­‌های مغناطیسی و الکتریکی نمونه.

 دقت دستگاه

  • رنج scan در راستای XY حداکثر 50 میکرومتر با رزولوشن 1 نانومتر
  • رنج scan در راستای Z حداکثر 4 میکرومتر با رزولوشن 0.1 نانومتر

نام دستگاه به لاتینAtomic force microscopy  یا  AFM

  • مدل دستگاه: BRISK 2019
  • تولید شرکت ARA Research ایران

نتایج آزمون

برای هر نمونه حداقل 4 تصویر ارائه خواهد شد که scale تصاویر توسط مشتری تعیین می­‌شود. نتایج آزمون حاوی چند پوشه است:

  • پوشه حاوی تصویر دو بعدی، تصویر سه بعدی و معیارهای رافنس (زبری) سطح.
  • پوشه حاوی فایل خام تصاویر که خروجی دستگاه است. این فایل­‌ها با نرم افزار imager باز می­‌شوند.
  • در صورتی که متقاضی درخواست محاسبه نیروی چسبندگی داشته باشد، حداقل 10 نقطه بررسی می شود که عدد نیروی چسبندگی در فایل pdf و 10 نمودار force-distance در قالب فایل اکسل ارائه می‌­شود.
  • نرم افزار پردازش تصویر imager، در صورتی که متقاضی تمایل داشته باشد تصاویر را با تنظیمات دلخواه level (شیب­‌گیری) کند، عکس 3D سطح نمونه را از زوایای متفاوت بگیرد، ابعاد (طول، عرض و ارتفاع) ذرات را محاسبه و علامت­گذاری کند، رافنس را محاسبه نماید و چند قابلیت دیگر، نیاز به فایل خام تصاویر و نرم افزار پردازش تصویر Imager هست.
  • فایل pdf آموزش استفاده از نرم افزار imager

مدت زمان تخمینی انجام آنالیز

بین 5 تا 15 روز کاری


هزینه ها

عکس برداری در مدهای تماسی، غیر تماسی و ضربه ای به علاوه محاسبه زبری سطح: 150000 تومان

عکس برداری از سطح نمونه به علاوه محاسبه نیروی چسبندگی: 200000 تومان

میکروسکوپ نیروی مغناطیسی: 200000 تومان


هزینه خدمات و تحلیل برای هر نمونه

هزینه آماده سازی به هزینه تست اضافه می‌شود.

نکات مهم

مشخصات نمونه

  • حداکثر ضخامت نمونه 5mm
  • نمونه مرطوب و چسبنده نباشد.
  • حداکثر پستی و بلندی سطح زیر 4 میکرومتر باشد.

کامنت‌ها بسته شده‌اند.